紙箱跌落試驗通常是主要用來模擬未包裝及包裝內(nèi)的產(chǎn)品在搬運期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機率做為參考標準，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面（如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定）。
       跌落試驗為產(chǎn)品包裝后在模擬不同的棱、角、面于不同的高度跌落于地面時的情況，從而了解產(chǎn)品受損情況及評估產(chǎn)品包裝組件在跌落時所能承受的墮落高度及耐沖擊強度，從而根據(jù)產(chǎn)品實際情況及國家標準范圍內(nèi)進行改進、完善包裝設(shè)計。

      對于不同國際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產(chǎn)品大多數(shù)掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產(chǎn)品(如手機）則建議落下高度為150cm。

      跌落試驗的嚴苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

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